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X線吸収微細構造 : XAFSの測定と解析

宇田川康夫編. -- 学会出版センター, 1993. -- (日本分光学会測定法シリーズ ; 26). <TW10055520>
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所蔵一覧 1件~4件(全4件)

No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約 WEB書棚
0001 12号館 開架室 433.58/X 0010006584942 配架済 0件
0002 12号館 開架室 433.58/X 0010006584950 配架済 0件
0003 静 岡 開架室 425.2/N/26 0010041149173 配架済 0件
0004 札 幌 開 架 433.5/X 0010780538110 配架済 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 12号館
配置場所 開架室
請求記号 433.58/X
資料ID 0010006584942
状態 配架済
返却予定日
予約 0件
WEB書棚
No. 0002
巻号
所蔵館 12号館
配置場所 開架室
請求記号 433.58/X
資料ID 0010006584950
状態 配架済
返却予定日
予約 0件
WEB書棚
No. 0003
巻号
所蔵館 静 岡
配置場所 開架室
請求記号 425.2/N/26
資料ID 0010041149173
状態 配架済
返却予定日
予約 0件
WEB書棚
No. 0004
巻号
所蔵館 札 幌
配置場所 開 架
請求記号 433.5/X
資料ID 0010780538110
状態 配架済
返却予定日
予約 0件
WEB書棚

書誌詳細

標題および責任表示 X線吸収微細構造 : XAFSの測定と解析 / 宇田川康夫編
Xセン キュウシュウ ビサイ コウゾウ : XAFS ノ ソクテイ ト カイセキ
出版・頒布事項 東京 : 学会出版センター , 1993.2
形態事項 x,222p ; 21cm
巻号情報
ISBN 4762257087
書誌構造リンク 日本分光学会測定法シリーズ||ニホン ブンコウ ガッカイ ソクテイホウ シリーズ <TW10000743> 26
注記 文献:p219-220
学情ID BN08713353
本文言語コード 日本語
著者標目リンク 宇田川, 康夫(1943-)
ウダガワ, ヤスオ <>
分類標目 分析化学 NDC8:433.5
分類標目 NDC7:433.58
ローカル分類標目 NDC:433.58
ローカル分類標目 NDC:425.2
ローカル分類標目 NDC9:433.57
件名標目等 エックス線分光分析||エックスセンブンコウブンセキ
レコードID TW10055520