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デバイス・部品の信頼性試験

高久清[ほか]著. -- 日科技連出版社, 1992. -- (信頼性110番シリーズ ; 2). <TW10002105>
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デバイス・部品の信頼性試験

高久清[ほか]著. -- 日科技連出版社, 1992. -- (信頼性110番シリーズ ; 2). <TW10002105>
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所蔵一覧 1件～1件（全1件）

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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 WEB書棚
0001 中　央 【外部書庫】開架室 549.8/D 0010005145872 配架済
No. 0001
巻号
所蔵館 中　央
配置場所 【外部書庫】開架室
請求記号 549.8/D
資料ID 0010005145872
状態 配架済
返却予定日
WEB書棚
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書誌詳細

標題および責任表示 デバイス・部品の信頼性試験 / 高久清[ほか]著
デバイス・ブヒン ノ シンライセイ シケン
出版・頒布事項 東京 : 日科技連出版社 , 1992.9
形態事項 164p ; 21cm
巻号情報
ISBN 4817130288
書誌構造リンク 信頼性110番シリーズ||シンライセイ 110バン シリーズ <TW10025036> 2
学情ID BN08248468
本文言語コード 日本語
著者標目リンク 高久, 清(1943-)
タカヒサ, キヨシ <>
分類標目 電子工学 NDC8:549.8
ローカル分類標目 NDC:549.8
件名標目等 半導体
件名標目等 集積回路
件名標目等 信頼性(工学)
レコードID TW10002105
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