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The 10th international conference on x-ray microscopy : Chicago, Illinois, USA, 15-20 August 2010

editors, Ian McNulty, Catherine Eyberger, Barry Lai. -- American Institute of Physics, 2011. -- (AIP conference proceedings ; 1365). <BB00410335>
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The 10th international conference on x-ray microscopy : Chicago, Illinois, USA, 15-20 August 2010

editors, Ian McNulty, Catherine Eyberger, Barry Lai. -- American Institute of Physics, 2011. -- (AIP conference proceedings ; 1365). <BB00410335>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約 WEB書棚
0001 12号館 開架室 425.5/T 0010013509942 配架済 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 12号館
配置場所 開架室
請求記号 425.5/T
資料ID 0010013509942
状態 配架済
返却予定日
予約 0件
WEB書棚
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書誌詳細

標題および責任表示 The 10th international conference on x-ray microscopy : Chicago, Illinois, USA, 15-20 August 2010 / editors, Ian McNulty, Catherine Eyberger, Barry Lai
出版・頒布事項 Melville, N.Y. : American Institute of Physics , c2011
形態事項 xii, 473 p. : ill. ; 29 cm
巻号情報
ISBN 9780735409255
書誌構造リンク AIP conference proceedings <TY10000449> 1365//a
注記 Includes bibliographical references and index
学情ID BB07699536
本文言語コード 英語
著者標目リンク McNulty, Ian <>
著者標目リンク Eyberger, Catherine <>
著者標目リンク Lai, Barry <>
著者標目リンク *International conference on x-ray microscopy <> (10th : 2010 : Chicago, USA)
ローカル分類標目 NDC9:425.5
レコードID BB00410335
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