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Applied scanning probe methods

Bharat Bhushan, Harald Fuchs, Sumio Hosaka [eds.]. -- Springer, 2003. -- (Nanoscience and technology). <BB00171438>
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Bharat Bhushan, Harald Fuchs, Sumio Hosaka [eds.]. -- Springer, 2003. -- (Nanoscience and technology). <BB00171438>
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所蔵一覧 1件～1件（全1件）

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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約 WEB書棚
0001 静　岡 閉架地下２階図書 549.97/B 0010042056640 配架済 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 静　岡
配置場所 閉架地下２階図書
請求記号 549.97/B
資料ID 0010042056640
状態 配架済
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 Applied scanning probe methods / Bharat Bhushan, Harald Fuchs, Sumio Hosaka [eds.]
出版・頒布事項 Berlin ; New York : Springer , c2004
形態事項 xx, 476 p. : ill. ; 24 cm
巻号情報
ISBN 3540005277
書誌構造リンク Nanoscience and technology <TY10088462>//a
注記 Includes bibliographical references and index
学情ID BA65708590
本文言語コード 英語
著者標目リンク Bhushan, Bharat, 1949- <AU00100285>
著者標目リンク Fuchs, H. (Harald) <>
著者標目リンク Hosaka, Sumio <>
分類標目 LCC:TA417.23
分類標目 DC22:620.1/1299
ローカル分類標目 NDC9:549.97
件名標目等 Materials -- Microscopy
件名標目等 Scanning probe microscopy
レコードID BB00171438
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