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Sampling, wavelets, and tomography

John J. Benedetto, Ahmed I. Zayed, editors. -- Birkhäuser, 2004. -- (Applied and numerical harmonic analysis / series editor, John J. Benedetto). <BB00177392>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 WEB書棚
0001 静 岡 閉架地下2階図書 413.5/S 0010042058066 配架済
No. 0001
巻号
所蔵館 静 岡
配置場所 閉架地下2階図書
請求記号 413.5/S
資料ID 0010042058066
状態 配架済
返却予定日
WEB書棚

書誌詳細

標題および責任表示 Sampling, wavelets, and tomography / John J. Benedetto, Ahmed I. Zayed, editors
出版・頒布事項 Boston : Birkhäuser , c2004
形態事項 xxi, 344 p. : ill. ; 25 cm
巻号情報
ISBN 0817643044
書誌構造リンク Applied and numerical harmonic analysis / series editor, John J. Benedetto <TY10087737>//a
注記 Includes bibliographical references and index
学情ID BA65445334
本文言語コード 英語
著者標目リンク Benedetto, John <AU00050543>
著者標目リンク Zayed, Ahmed I. <AU00120910>
分類標目 LCC:QA403
分類標目 DC22:515/.2433
ローカル分類標目 NDC9:413.5
件名標目等 Harmonic analysis
件名標目等 Wavelets (Mathematics)
件名標目等 Fourier analysis
件名標目等 Sampling (Statistics)
件名標目等 Tomography
レコードID BB00177392