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High performance memory testing : design principles, fault modeling, and self-test

R. Dean Adams. -- Kluwer Academic, 2003. -- (Frontiers in electronic testing). <BB00347138>
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R. Dean Adams. -- Kluwer Academic, 2003. -- (Frontiers in electronic testing). <BB00347138>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約 WEB書棚
0001 12号館 開架室 548.232/A 0010013177869 貸出中 2025/3/31 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 12号館
配置場所 開架室
請求記号 548.232/A
資料ID 0010013177869
状態 貸出中
返却予定日 2025/3/31
予約 0件
WEB書棚
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書誌詳細

標題および責任表示 High performance memory testing : design principles, fault modeling, and self-test / R. Dean Adams
出版・頒布事項 Boston ; London : Kluwer Academic , c2003
形態事項 xiii, 246 p. : ill. ; 25 cm
巻号情報
ISBN 1402072554
書誌構造リンク Frontiers in electronic testing <BB00347139>//a
注記 Includes bibliographical references and index
学情ID BA6145707X
本文言語コード 英語
著者標目リンク *Adams, R. Dean <>
分類標目 DC21:621.39732
ローカル分類標目 NDC9:548.232
ローカル分類標目 NDC9:007.61
件名標目等 Semiconductor storage devices -- Testing
件名標目等 Computer storage devices -- Testing
レコードID BB00347138
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