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Point defects in semiconductors and insulators : determination of atomic and electronic structure from paramagnetic hyperfine interactions

J.-M. Spaeth, H. Overhof. -- Springer, 2003. -- (Springer series in materials science ; 51). <BB00462971>
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Point defects in semiconductors and insulators : determination of atomic and electronic structure from paramagnetic hyperfine interactions

J.-M. Spaeth, H. Overhof. -- Springer, 2003. -- (Springer series in materials science ; 51). <BB00462971>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約 WEB書棚
0001 12号館 開架室 549.8/S 0010013728105 配架済 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 12号館
配置場所 開架室
請求記号 549.8/S
資料ID 0010013728105
状態 配架済
返却予定日
予約 0件
WEB書棚
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書誌詳細

標題および責任表示 Point defects in semiconductors and insulators : determination of atomic and electronic structure from paramagnetic hyperfine interactions / J.-M. Spaeth, H. Overhof
出版・頒布事項 Berlin ; Tokyo : Springer , c2003
形態事項 xi, 490 p : ill ; 24 cm
巻号情報
ISBN 3540426957
書誌構造リンク Springer series in materials science <TY10009397> 51//a
注記 Includes bibliographical references and index
学情ID BA61144314
本文言語コード 英語
著者標目リンク *Spaeth, Johann-Martin <AU00229424>
著者標目リンク Overhof, H. (Harald), 1942- <AU00229425>
分類標目 DC21:621.38152
ローカル分類標目 NDC9:549.8
件名標目等 Semiconductors -- Defects
件名標目等 Semiconductors -- Testing -- Methodology
件名標目等 Nuclear magnetic resonance spectroscopy
レコードID BB00462971
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