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Transmission electron microscopy and diffractometry of materials

Brent Fultz, James Howe. -- 2nd ed. -- Springer, 2002. -- (Physics and astronomy online library). <BB00138351>
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Brent Fultz, James Howe. -- 2nd ed. -- Springer, 2002. -- (Physics and astronomy online library). <BB00138351>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約 WEB書棚
0001 12号館 開架室 549.97/F 0010009538712 配架済 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 12号館
配置場所 開架室
請求記号 549.97/F
資料ID 0010009538712
状態 配架済
返却予定日
予約 0件
WEB書棚
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書誌詳細

標題および責任表示 Transmission electron microscopy and diffractometry of materials / Brent Fultz, James Howe
版事項 2nd ed
出版・頒布事項 Berlin ; Tokyo : Springer , c2002
形態事項 xxi, 748 p. : ill. ; 24 cm
巻号情報
ISBN 3540437649
書誌構造リンク Physics and astronomy online library <BB00038088>//a
注記 Includes bibliographical references and index
学情ID BA59086328
本文言語コード 英語
ISSN 14392674
著者標目リンク *Fultz, B. <AU00100960>
著者標目リンク Howe, James M., 1955- <AU00100961>
分類標目 LCC:TA417.23
分類標目 DC21:620.1/1299
ローカル分類標目 NDC9:549.97
件名標目等 Materials -- Microscopy
件名標目等 Transmission electron microscopy
件名標目等 X-ray diffractometer
レコードID BB00138351
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