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Exploitation de l'analyse quantitative des retouches pour la caractérisation des industries lithiques du Moustérien : application au faciès Quina de la Vallée du Rhône

Pascale Yvorra. -- John and Erica Hedges, 2000. -- (BAR international series ; 869). <BB00041855>
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Exploitation de l'analyse quantitative des retouches pour la caractérisation des industries lithiques du Moustérien : application au faciès Quina de la Vallée du Rhône

Pascale Yvorra. -- John and Erica Hedges, 2000. -- (BAR international series ; 869). <BB00041855>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約 WEB書棚
0001 11号館 書　庫 202.5/B/869 0010008984700 配架済 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 11号館
配置場所 書　庫
請求記号 202.5/B/869
資料ID 0010008984700
状態 配架済
返却予定日
予約 0件
WEB書棚
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書誌詳細

標題および責任表示 Exploitation de l'analyse quantitative des retouches pour la caractérisation des industries lithiques du Moustérien : application au faciès Quina de la Vallée du Rhône / Pascale Yvorra
出版・頒布事項 Oxford : John and Erica Hedges , 2000
形態事項 x, 396 p. : ill., maps ; 30 cm
巻号情報
ISBN 1841711454
書誌構造リンク BAR international series <TY10002701> 869//a
その他の標題 背表紙タイトル:Analyse quantitative des retouches au facies Quina rhodanien
学情ID BA49551986
本文言語コード フランス語
著者標目リンク *Yvorra, Pascale <>
ローカル分類標目 NDC:202.5
ローカル分類標目 NDC9:202.5
レコードID BB00041855
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