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Microbeam analysis 2000 : proceedings of the Second Conference of the Internatinal Union of Microbeam Analysis Societies held in Kailua-Kona, Hawaii, 9-14 July 2000

edited by David B. Williams and Ryuichi Shimizu. -- Institute of Physics, 2000. -- (Institute of Physics conference series ; no. 165). <BB00056057>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約 WEB書棚
0001 12号館 開架室 433.5/M/'00 001000912473X 配架済 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 12号館
配置場所 開架室
請求記号 433.5/M/'00
資料ID 001000912473X
状態 配架済
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 Microbeam analysis 2000 : proceedings of the Second Conference of the Internatinal Union of Microbeam Analysis Societies held in Kailua-Kona, Hawaii, 9-14 July 2000 / edited by David B. Williams and Ryuichi Shimizu
出版・頒布事項 Bristol : Institute of Physics , 2000
形態事項 xxviii, 498 p. : ill. ; 25 cm
巻号情報
ISBN 0750306858
書誌構造リンク Institute of Physics conference series <TY10002553> no. 165//a
注記 Includes bibliographical references and indexes
学情ID BA48211916
本文言語コード 英語
著者標目リンク Williams, David B. (David Bernard), 1949- <AU00052041>
著者標目リンク Shimizu, Ryuichi <>
著者標目リンク Institute of Physics (Great Britain). Electron Microscopy and Analysis Group <AU00052043>
著者標目リンク Conference of the International Union of Miceobeam Analysis Societires <> (2nd : 2000 : Kailua-Kona, Hawaii)
著者標目リンク IUMAS <>
ローカル分類標目 NDC9:433.5
レコードID BB00056057