東海大学蔵書検索

二次イオン質量分析法

日本表面科学会編. -- 丸善, 1999. -- (表面分析技術選書). <BB00008138>
登録タグ:
登録されているタグはありません
書誌URL:

所蔵一覧 1件~3件(全3件)

No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約 WEB書棚
0001 静 岡 開架室 428.4/N 0010041459466 配架済 0件
0002 中 央 【外部書庫】開架室 428.4/N 0010008737029 配架済 0件
0003 12号館 開架室 428.4/N 0010008756686 配架済 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 静 岡
配置場所 開架室
請求記号 428.4/N
資料ID 0010041459466
状態 配架済
返却予定日
予約 0件
WEB書棚
No. 0002
巻号
所蔵館 中 央
配置場所 【外部書庫】開架室
請求記号 428.4/N
資料ID 0010008737029
状態 配架済
返却予定日
予約 0件
WEB書棚
No. 0003
巻号
所蔵館 12号館
配置場所 開架室
請求記号 428.4/N
資料ID 0010008756686
状態 配架済
返却予定日
予約 0件
WEB書棚

書誌詳細

標題および責任表示 二次イオン質量分析法 / 日本表面科学会編
ニジ イオン シツリョウ ブンセキホウ
出版・頒布事項 東京 : 丸善 , 1999.7
形態事項 vii, 195p ; 21cm
巻号情報
ISBN 4621046233
書誌構造リンク 表面分析技術選書||ヒョウメン ブンセキ ギジュツ センショ <TW10157558>//a
学情ID BA42291413
本文言語コード 日本語
著者標目リンク 日本表面科学会||ニホン ヒョウメン カガクカイ <AU00001352>
分類標目 物性物理学 NDC8:428.4
分類標目 物性物理学 NDC9:428.4
ローカル分類標目 NDC:428.4
件名標目等 表面(工学上)||ヒョウメン(コウガクジョウ)
件名標目等 イオンビーム||イオンビーム
件名標目等 質量分析||シツリョウブンセキ
レコードID BB00008138