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シリコン結晶欠陥の基礎物性とその評価法

上浦洋一著. -- リアライズ社, 1997. <TW10151377>
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シリコン結晶欠陥の基礎物性とその評価法

上浦洋一著. -- リアライズ社, 1997. <TW10151377>
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所蔵一覧 1件～1件（全1件）

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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約 WEB書棚
0001 12号館 大型コーナー 549.8/K 0010008341729 配架済 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 12号館
配置場所 大型コーナー
請求記号 549.8/K
資料ID 0010008341729
状態 配架済
返却予定日
予約 0件
WEB書棚
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書誌詳細

標題および責任表示 シリコン結晶欠陥の基礎物性とその評価法 / 上浦洋一著
シリコン ケッショウ ケッカン ノ キソ ブッセイ ト ソノ ヒョウカホウ
出版・頒布事項 東京 : リアライズ社 , 1997.5
形態事項 6, 192, 10p ; 30cm
巻号情報
ISBN 4947655976
その他の標題 表紙タイトル:Basic properties of defects in silicon and their characterizing technologies
注記 参考文献: p179-192
学情ID BA30607688
本文言語コード 日本語
著者標目リンク 上浦, 洋一
カミウラ, ヨウイチ <>
ローカル分類標目 NDC:549.8
レコードID TW10151377
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