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ICMTS 92 : proceedings of the 1992 International Conference on Microelectronic Test Structures : March 16-19, 1992, San Diego, California
sponsored by the IEEE Electron Devices Society ; : soft., : case., : micro.. -- Institute of Electrical and Electronics Engineers, 1991. <TY10004590>
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ICMTS 92 : proceedings of the 1992 International Conference on Microelectronic Test Structures : March 16-19, 1992, San Diego, California
sponsored by the IEEE Electron Devices Society ; : soft., : case., : micro.. -- Institute of Electrical and Electronics Engineers, 1991. <TY10004590>
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No.
巻号
所蔵館
配置場所
請求記号
資料ID
状態
返却予定日
予約
WEB書棚
0001
12号館
開架室
549.8/I/'92
0010005091381
配架済
0件
No.
0001
巻号
所蔵館
12号館
配置場所
開架室
請求記号
549.8/I/'92
資料ID
0010005091381
状態
配架済
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書誌詳細
標題および責任表示
ICMTS 92 : proceedings of the 1992 International Conference on Microelectronic Test Structures : March 16-19, 1992, San Diego, California / sponsored by the IEEE Electron Devices Society
出版・頒布事項
New York, NY : Institute of Electrical and Electronics Engineers , c1991
形態事項
xi, 214 p. : ill., ports. ; 28 cm
巻号情報
巻次等
: soft.
ISBN
0780305353
巻号情報
巻次等
: case.
ISBN
0780305361
巻号情報
巻次等
: micro.
ISBN
078030537X
その他の標題
背表紙タイトル:1992 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures
その他の標題
異なりアクセスタイトル:92CH31021
注記
Includes bibliographical references and index
注記
"92CH3102-1."
学情ID
BA18260956
本文言語コード
英語
著者標目リンク
*IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures <> (1992 : San Diego, Calif.)
著者標目リンク
IEEE Electron Devices Society <>
分類標目
LCC:TK7874
分類標目
DC20:621.381/5
ローカル分類標目
NDC:549.8
件名標目等
Integrated circuits -- Testing -- Congresses
レコードID
TY10004590
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LCC:TK7874
DC20:621.381/5
NDC:549.8
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