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ICMTS 92 : proceedings of the 1992 International Conference on Microelectronic Test Structures : March 16-19, 1992, San Diego, California

sponsored by the IEEE Electron Devices Society ; : soft., : case., : micro.. -- Institute of Electrical and Electronics Engineers, 1991. <TY10004590>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約 WEB書棚
0001 12号館 開架室 549.8/I/'92 0010005091381 配架済 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 12号館
配置場所 開架室
請求記号 549.8/I/'92
資料ID 0010005091381
状態 配架済
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 ICMTS 92 : proceedings of the 1992 International Conference on Microelectronic Test Structures : March 16-19, 1992, San Diego, California / sponsored by the IEEE Electron Devices Society
出版・頒布事項 New York, NY : Institute of Electrical and Electronics Engineers , c1991
形態事項 xi, 214 p. : ill., ports. ; 28 cm
巻号情報
巻次等 : soft.
ISBN 0780305353
巻号情報
巻次等 : case.
ISBN 0780305361
巻号情報
巻次等 : micro.
ISBN 078030537X
その他の標題 背表紙タイトル:1992 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures
その他の標題 異なりアクセスタイトル:92CH31021
注記 Includes bibliographical references and index
注記 "92CH3102-1."
学情ID BA18260956
本文言語コード 英語
著者標目リンク *IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures <> (1992 : San Diego, Calif.)
著者標目リンク IEEE Electron Devices Society <>
分類標目 LCC:TK7874
分類標目 DC20:621.381/5
ローカル分類標目 NDC:549.8
件名標目等 Integrated circuits -- Testing -- Congresses
レコードID TY10004590