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ICMTS 1991 : proceedings of the 1991 International Conference on Microelectronic Test Structures : March 18-20, 1991, Kyoto, Japan
sponsored by the IEEE Electron Devices Society ; : soft., : case., : micro.. -- Institute of Electrical and Electronics Engineers, 1991. <TY10004588>
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ICMTS 1991 : proceedings of the 1991 International Conference on Microelectronic Test Structures : March 18-20, 1991, Kyoto, Japan
sponsored by the IEEE Electron Devices Society ; : soft., : case., : micro.. -- Institute of Electrical and Electronics Engineers, 1991. <TY10004588>
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50件
100件
No.
巻号
所蔵館
配置場所
請求記号
資料ID
状態
返却予定日
WEB書棚
0001
12号館
開架室
549.8/I/'91
001000509139X
配架済
No.
0001
巻号
所蔵館
12号館
配置場所
開架室
請求記号
549.8/I/'91
資料ID
001000509139X
状態
配架済
返却予定日
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書誌詳細
標題および責任表示
ICMTS 1991 : proceedings of the 1991 International Conference on Microelectronic Test Structures : March 18-20, 1991, Kyoto, Japan / sponsored by the IEEE Electron Devices Society
出版・頒布事項
New York, NY : Institute of Electrical and Electronics Engineers , c1991
形態事項
xii, 264 p. : ill. ; 28 cm
巻号情報
巻次等
: soft.
ISBN
0879425881
巻号情報
巻次等
: case.
ISBN
087942589X
巻号情報
巻次等
: micro.
ISBN
0879425903
その他の標題
不使用・別形式でのタイトル副出:Proceedings of the 1991 International Conference on Microelectronic Test Structures
その他の標題
異なりアクセスタイトル:91CH29074
注記
Includes bibliographical references and index
注記
"90CH2907-4."
学情ID
BA12891036
本文言語コード
英語
著者標目リンク
*IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (1991 : Kyoto, Japan) <>
著者標目リンク
IEEE Electron Devices Society <>
分類標目
LCC:TK7874
分類標目
DC20:621.381/5
ローカル分類標目
NDC:549.8
件名標目等
Integrated circuits -- Testing -- Congresses
レコードID
TY10004588
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DC20:621.381/5
NDC:549.8
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