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Defect recognition and image processing in III-V compounds, II : proceedings of the Second International Symposium on Defect Recognition and Image Processing in III-V Compounds (DRIP II), Monterey, California, April 27-29, 1987

edited by Eicke R. Weber. -- Elsevier, 1987. -- (Materials science monographs ; 44). <TY00022104>
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Defect recognition and image processing in III-V compounds, II : proceedings of the Second International Symposium on Defect Recognition and Image Processing in III-V Compounds (DRIP II), Monterey, California, April 27-29, 1987

edited by Eicke R. Weber. -- Elsevier, 1987. -- (Materials science monographs ; 44). <TY00022104>
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所蔵一覧 1件～2件（全2件）

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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約 WEB書棚
0001 12号館 開架室 501.4/M/44 0010002669056 配架済 0件
0002 12号館 開架室 549.8/I 0010007746156 配架済 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 12号館
配置場所 開架室
請求記号 501.4/M/44
資料ID 0010002669056
状態 配架済
返却予定日
予約 0件
WEB書棚
No. 0002
巻号
所蔵館 12号館
配置場所 開架室
請求記号 549.8/I
資料ID 0010007746156
状態 配架済
返却予定日
予約 0件
WEB書棚
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書誌詳細

標題および責任表示 Defect recognition and image processing in III-V compounds, II : proceedings of the Second International Symposium on Defect Recognition and Image Processing in III-V Compounds (DRIP II), Monterey, California, April 27-29, 1987 / edited by Eicke R. Weber
出版・頒布事項 Amsterdam ; Tokyo : Elsevier , 1987
形態事項 x, 320 p. : ill. ; 25 cm
巻号情報
ISBN 0444428925
書誌構造リンク Materials science monographs <TY10001898> 44
注記 Includes bibliographies and index
学情ID BA04031349
本文言語コード 英語
著者標目リンク *International Symposium on Defect Recognition and Image Processing in III-V Compounds <> (2nd : 1987 : Monterey, Calif.)
著者標目リンク Weber, Eicke R. <>
分類標目 LCC:TK7871.85
分類標目 DC19:621.3815/2
ローカル分類標目 NDC:501.4
ローカル分類標目 NDC:428.85
ローカル分類標目 NDC:549.8
件名標目等 Semiconductors -- Defects -- Congresses
件名標目等 Gallium arsenide -- Congresses
件名標目等 Image processing -- Congresses
レコードID TY00022104
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