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Secondary ion mass spectrometry : SIMS V : proceedings of the fifth international conference, Washington, DC, September 30-October 4, 1985

editors: A. Benninghoven ... [et al.]. -- Springer-Verlag, 1986. -- (Springer series in chemical physics ; v. 44). <TY10015573>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 WEB書棚
0001 12号館 開架室 433.5/I 0010006218644 配架済
No. 0001
巻号
所蔵館 12号館
配置場所 開架室
請求記号 433.5/I
資料ID 0010006218644
状態 配架済
返却予定日
WEB書棚

書誌詳細

標題および責任表示 Secondary ion mass spectrometry : SIMS V : proceedings of the fifth international conference, Washington, DC, September 30-October 4, 1985 / editors: A. Benninghoven ... [et al.]
出版・頒布事項 Berlin ; Tokyo : Springer-Verlag , c1986
形態事項 xxi, 561 p. : ill. ; 24 cm
巻号情報
ISBN 3540162631
巻号情報
ISBN 0387162631
書誌構造リンク Springer series in chemical physics <TY10000328> v. 44
注記 Includes bibliographies and index
学情ID BA00846599
本文言語コード 英語
著者標目リンク *International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry <> (5th : 1985 : Washington D. C.)
著者標目リンク Benninghoven, A. <>
分類標目 LCC:QD96.S43
分類標目 DC19:539/.6/028
ローカル分類標目 NDC:433.5
件名標目等 Secondary ion mass spectrometry -- Congresses
レコードID TY10015573