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光学薄膜における光散乱計測方法の検討

大日向, 哲郎; 室谷, 裕志; 若木, 守明; 飯田, 義隆, 2008.03.31. -- (東海大学紀要. 工学部. Vol.47 No.2(2007)). w. <TC20003932>
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光学薄膜における光散乱計測方法の検討

大日向, 哲郎; 室谷, 裕志; 若木, 守明; 飯田, 義隆, 2008.03.31. -- (東海大学紀要. 工学部. Vol.47 No.2(2007)). w. <TC20003932>
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kj00005074068.pdf

書誌詳細

タイトル 光学薄膜における光散乱計測方法の検討
タイトル(その他) Evaluation Method of Light Scattering in Optical Thin Films
作成者 大日向, 哲郎
オビナタ, テツロウ
Obinata, Tetsuro
作成者 室谷, 裕志
ムロタニ, ヒロシ
Murotani, Hiroshi
作成者 若木, 守明
ワカキ, モリアキ
Wakaki, Moriaki
作成者 飯田, 義隆
イイダ, ヨシタカ
Iida, Yoshitaka
公開者 東海大学工学部
掲載巻号 東海大学紀要. 工学部. Vol.47 No.2(2007) <TB20000314>
ISSN 24343633
雑誌名 東海大学紀要. 工学部
巻次等 47
号 2
開始終了ページ 31-38
発行日 2008.03.31
主題 Optical Thin Film
主題 Light Scattering
主題 Haze
主題 TiO_2
資料種別(NIIタイプ) 紀要論文
フォーマット PDFファイル
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