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SiドープSiO2薄膜の欠陥構造

佐藤, 慶介; 岩瀬, 満雄; 和泉, 富雄; 野崎, 眞次; 森崎, 弘, 2000.03.31. -- (東海大学紀要. 工学部. Vol.39 No.2(1999)). w. <TC20003603>
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書誌詳細

タイトル SiドープSiO2薄膜の欠陥構造
タイトル(その他) Defect Structures in SiO2 Films Doped with Si-nanocrystal
作成者 佐藤, 慶介
サトウ, ケイスケ
Sato, Keisuke
作成者 岩瀬, 満雄
イワセ, ミツオ
Iwase, Mitsuo
作成者 和泉, 富雄
イズミ, トミオ
Izumi, Tomio
作成者 野崎, 眞次
ノザキ, シンジ
Nozaki, Shinji
作成者 森崎, 弘
モリサキ, ヒロシ
Morisaki, Hiroshi
公開者 東海大学工学部
公開者 School of Engineering, Tokai University
公開者 東海大学出版会
掲載巻号 東海大学紀要. 工学部. Vol.39 No.2(1999) <TB20000298>
ISSN 24343633
雑誌名 東海大学紀要. 工学部
巻次等 39
号 2
開始終了ページ 33-37
発行日 2000.03.31
主題 Si-nanocrystal
主題 Defect structures
主題 Electron spin resonance
主題 Visible light emission
主題 Photoluminescence
資料種別(NIIタイプ) 紀要論文
フォーマット PDFファイル