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低温での微結晶ゲルマニウム薄膜の堆積とその膜の構造的・電気的特性

中下, 俊夫; 牧, 孝介; 門前, 智也; 上原, 富美哉, 1998.10.30. -- (東海大学紀要. 工学部. Vol.38 No.1(1998)). w. <TC20003498>
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書誌詳細

タイトル 低温での微結晶ゲルマニウム薄膜の堆積とその膜の構造的・電気的特性
タイトル(その他) Deposition of Microcrystalline Ge Thin Films at Low Temperature and Structural and Electrical Properties
作成者 中下, 俊夫
ナカシタ, トシオ
Nakashita, Toshio
作成者 牧, 孝介
マキ, コウスケ
Maki, Kohsuke
作成者 門前, 智也
モンゼン, トモヤ
Monzen, Tomoya
作成者 上原, 富美哉
ウエハラ, フミヤ
Uehara, Fumiya
公開者 東海大学工学部
公開者 School of Engineering, Tokai University
公開者 東海大学出版会
掲載巻号 東海大学紀要. 工学部. Vol.38 No.1(1998) <TB20000295>
ISSN 24343633
雑誌名 東海大学紀要. 工学部
巻次等 38
号 1
開始終了ページ 67-72
発行日 1998.10.30
主題 Microcrystalline Ge
主題 Plasma CVD
主題 Low Temperature Deposition
主題 Electrical Property
資料種別(NIIタイプ) 紀要論文
フォーマット PDFファイル