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回転検光子型偏光解析装置を用いた移相板の移相量の測定

大蔵, 貴博; 川畑, 州一; 深澤, 正大; 横田, 英嗣, 1986.10.30. -- (東海大学紀要. 工学部. Vol.26 No.1(1986)). w. <TC20002946>
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書誌詳細

タイトル 回転検光子型偏光解析装置を用いた移相板の移相量の測定
タイトル(その他) The Measurements of the Retardation of the Phase Retardation Plates by Means of the Conventional Rotating Analyzer Type Ellipsometer
作成者 大蔵, 貴博
オオクラ, タカヒロ
Ohkura, Takahiro
作成者 川畑, 州一
カワバタ, シュウイチ
Kawabata, Shuichi
作成者 深澤, 正大
フカサワ, マサヒロ
Fukasawa, Masahiro
作成者 横田, 英嗣
ヨコタ, ヒデシ
Yokota, Hideshi
公開者 東海大学工学部
掲載巻号 東海大学紀要. 工学部. Vol.26 No.1(1986) <TB20000271>
ISSN 24343633
雑誌名 東海大学紀要. 工学部
巻次等 26
号 1
開始終了ページ 197-200
発行日 1986.10.30
資料種別(NIIタイプ) 紀要論文
フォーマット PDFファイル